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YAMABUN山文電氣臺式離線光學膜測厚儀TOF-S

YAMABUN山文電氣臺式離線光學膜測厚儀TOF-S

檢測材料：電子·光學用透明平滑薄膜、多層薄膜，光學膜

YAMABUN山文電氣臺式離線光學膜厚度測厚儀

實現(xiàn)高測量重復性（±0.01μm以下，根據(jù)對象物及測量條件）

不易受溫度變化的影響

研究·檢查用的離線類型、制造工序中使用的在線類型都可以制作

因為是反射型，所以可以從薄膜一側進行測定

只能測定透明涂布膜層（根據(jù)測量條件）

光學膜測厚儀的主要作用如下：

測量薄膜厚度：光學膜測厚儀能夠直接檢測出物體透明或者半透明涂層的厚度1。

非接觸式測量：因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品5。

快速準確：測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品5。

多層膜測量：可測量3層以內的多層膜5。

適用性強：根據(jù)用途可自由選擇手動型或自動型。產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設計產(chǎn)品5。

適用場景廣泛：光學膜測厚儀適用于大學、研究室等場所5。

綜上所述，光學膜測厚儀在工業(yè)生產(chǎn)和科學研究中發(fā)揮著重要作用。隨著技術的不斷進步和應用領域的拓展，光學膜測厚儀將繼續(xù)發(fā)揮重要作用，推動相關領域的發(fā)展和創(chuàng)新。

光學膜涂布、太陽能晶圓、超薄玻璃、膠帶、光阻等測量。應用在涂膠工序時，該設備可放置于涂膠池后、烘箱前，在線測量涂膠的厚度；也可以在線測量離型膜涂布的厚度。應用甚廣，尤其適合厚度要求達到納米級的透明多層物體的厚度測量。