SND-207-日本OKEN應(yīng)用光研測(cè)量用品、γ射線測(cè)量器
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胡經(jīng)理
日本OKEN應(yīng)用光研測(cè)量用品、γ射線測(cè)量器
日本OKEN應(yīng)用光研測(cè)量用品、γ射線測(cè)量器
γ射線用測(cè)量器 SND-207
GM測(cè)量器 SGS-201
手足清潔機(jī) FZS-302、FPS-302、FDS-302
X射線檢測(cè)儀是利用X射線的穿透能力，在工業(yè)上一般用于檢測(cè)一些眼睛所看不到的物品內(nèi)部傷，斷，或電路的短路等。比如說(shuō)檢測(cè)多層基板內(nèi)部電路有無(wú)短路，X射線可心穿透基板的表面看到基板的內(nèi)部電路，在X射線發(fā)生器對(duì)面有個(gè)數(shù)據(jù)接收器，自動(dòng)的將接收到的輻射轉(zhuǎn)換成電信號(hào)并傳到擴(kuò)張板中，并在電腦中轉(zhuǎn)換成特定的信號(hào)，通過(guò)的軟件將圖像在顯示器中顯示出來(lái)，這樣就可以通過(guò)肉眼觀測(cè)到基板的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，而不用拿萬(wàn)用表去慢慢測(cè)試。
γ射線有很強(qiáng)的穿透性，γ射線探傷就是利用γ射線得穿透性和直線性來(lái)探傷的方法。γ射線雖然不會(huì)像可見(jiàn)光那樣憑肉眼就能直接察知，但它可使照相底片感光，也可用特殊的接收器來(lái)接收。當(dāng)γ射線穿過(guò)(照射)物質(zhì)時(shí)，該物質(zhì)的密度越大，射線強(qiáng)度減弱得越多，即射線能穿透過(guò)該物質(zhì)的強(qiáng)度就越小。此時(shí)，若用照相底片接收，則底片的感光量就小;若用儀器來(lái)接收，獲得的信號(hào)就弱。因此，用γ射線來(lái)照射待探傷的零部件時(shí)，若其內(nèi)部有氣孔、夾渣等缺陷，射線穿過(guò)有缺陷的路徑比沒(méi)有缺陷的路徑所透過(guò)的物質(zhì)密度要小得多，其強(qiáng)度就減弱得少些，即透過(guò)的強(qiáng)度就大些，若用底片接收，則感光量就大些，就可以從底片上反映出缺陷垂直于射線方向的平面投影;若用其它接收器也同樣可以用儀表來(lái)反映缺陷垂直于射線方向的平面投影和射線的透過(guò)量。一般情況下，γ射線探傷是不易發(fā)現(xiàn)裂紋的，或者說(shuō)，γ射線探傷對(duì)裂紋是不敏感的。因此，γ射線探傷對(duì)氣孔、夾渣、未焊透等體積型缺陷敏感。即γ射線探傷適宜用于體積型缺陷探傷，而不適宜面積型缺陷探傷
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